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  • 芯片测试分选机

    ■  设备简介: 

     振动盘上料,采用转塔式测试机构,可实现单轨和双轨两种上料测试方式
     匹配国内外各品牌仪表


    ■  设备特点: 

     可以自由选择测试站的数量和分bin站的数量,实现顺测或者并测的功能
     兼容不同型号的芯片测试,换型时间≤15分钟
     测试时间<80ms,单轨测试UPH≥16K,双轨测试UPH≥36K













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